Sobre
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Secretaría: JISC (Japan)
Responsable de comité: -
Presidente/a (hasta el final 2029):Dr Satoshi Gonda
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Responsable de programa técnico de ISO [TPM]:Responsable editorial de ISO [EM]:
- Fecha de creación: 1991
Alcance
Standardization in the field of surface chemical analysis. Surface chemical analysis includes analytical techniques in which beams of electrons, ions, neutral atoms or molecules, or photons are incident on the specimen material and scattered or emitted electrons, ions, neutral atoms or molecules, or photons are detected. It also includes techniques in which probes are scanned over the surface and surface-related signals are detected.
Excluded:
- Scanning electron microscopy which is within the scope of ISO/TC 202.
Note:
With current techniques of surface chemical analysis, analytical information is obtained for regions close to a surface (generally within 20 nm) and analytical information-versus-depth data are obtained with surface analytical techniques over greater depths.
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Este comité contribuye con 11 normas a los siguientes Objetivos de Desarrollo Sostenible:
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JISC (Japan)
1-2-3 Ninomiya,
Tsukuba
Ibaraki 305-0051
Japan