Resumen
This document gives guidance on the measurement and use of experimentally-determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials by Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. The methods described only apply to polycrystalline and amorphous materials, as effects inherent to single-crystal samples are not addressed.
Informaciones generales
-
Estado: PublicadoFecha de publicación: 2024-02Etapa: Norma Internacional publicada [60.60]
-
Edición: 3Número de páginas: 22
-
Comité Técnico :ISO/TC 201/SC 7ICS :71.040.40
- RSS actualizaciones
Ciclo de vida
-
Anteriormente
RetiradaISO 18118:2015
-
Ahora
¿Tiene alguna duda?
Consulte nuestras Ayuda y asistencia
Atención al cliente
+41 22 749 08 88
Horario de asistencia:
De lunes a viernes - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)