ISO 4518:1980
1980-08
Résumé
1.1 La présente Norme internationale spécifie une méthode de mesurage des épaisseurs de revêtements métalliques consistant à former tout d'abord un gradin entre la surface du revêtement et la surface de son substrat, puis à mesurer ce gradin à l'aide d'un instrument à enregistreur de profil. Elle indique les caractéristiques d'appareillage et le mode opératoire convenant à cette application particulière des méthodes profilométriques. 1.2 La méthode est applicable au mesurage d'épaisseurs de revêtements métalliques de 0,01 µm à 1 000 µm sur des surfaces planes et, en prenant des précautions convenables, sur des surfaces cylindriques. Elle convient particulièrement au mesurage de très faibles épaisseurs; toutefois, pour des épaisseurs inférieures à 0,01 µ, la planéité et le poli de la surface sont très critiques, de sorte que la méthode n'est pas recommandée pour être utilisée en-dessous du niveau minimal de mesurage habituel pour des mesureurs de profil à contact. Cette méthode conv
Informations générales
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État actuel: AnnuléeDate de publication: 1980-08Stade: Annulation de la Norme internationale [95.99]
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Edition: 1Nombre de pages: 4
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Comité technique :ISO/TC 107ICS :25.220.40
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PubliéeISO 4518:2021