ISO 24173:2009
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ISO 24173:2009
42052
État actuel : Publiée (Sera révisée)
Le dernier examen de cette norme date de 2015. Cette édition reste donc d’actualité.
Cette norme sera remplacée parISO/PRF 24173
fr
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  • CHF166
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Résumé

L'ISO 24173:2009 fournit des recommandations sur la façon de produire des mesures d'orientation cristallographique fiables et reproductibles en utilisant la diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD). Elle aborde les conditions de préparation des échantillons, la configuration de l'instrument, l'étalonnage et l'acquisition des données.

Informations générales

  •  : Publiée
     : 2009-09
    : Norme internationale à réviser [90.92]
  •  : 1
     : 45
  • ISO/TC 202
    71.040.50 
  • RSS mises à jour

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