ISO 17901-2:2015

Indisponible en français

Publiée (Edition 1, 2015)

Cette publication a été révisée et confirmée pour la dernière fois en 2020. Cette édition reste donc d’actualité.

ISO 17901-2:2015

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Résumé

ISO 17901-2:2015 specifies the terms and measurement method concerning exposure characteristics (exposure characteristic curve, exposure at half-maximum, R-value, amplitude of refractive index modulation) for the hologram recorded by double-beam interference. The materials of hologram to be measured are not restricted to any particular ones. ISO 17901-2:2015 does not intend to restrict manufacturing process.

Informations générales

État actuel
: Publiée

Date de publication
: 2015-07

Stade
: Norme internationale confirmée [90.93]
Edition
: 1
Comité technique :
ISO/TC 172/SC 9

ICS :
31.020
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