ISO 6342:1993
w
ISO 6342:1993
12641

Текущий статус : Отозвано

Это стандарт пересмотренISO 6342:2003

Тезис

The method specified determines the buildup thickness of the aperture card as the difference between the thickness of the buildup area and the thickness of the card both measured using a micrometer.

Общая информация

  •  : Отозвано
     : 1993-08
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  •  : 1
  • ISO/TC 171/SC 2
    37.080 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)