Ссылочный номер
ISO 24173:2009
© ISO 2024
ISO 24173:2009
Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
Версия 1
2009-09
В время отменен
Отозвано (Версия 1, 2009)

Тезис

ISO 24173:2009 gives advice on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Отозвано
    Дата публикации
     : 2009-09
    Этап
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202
    ICS :
    71.040.50 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.50
  8. ISO 24173:2009