недоступно на русском языке

Текущий статус : Опубликовано (Hа стадии пересмотра)

Последний раз этот стандарт был пересмотрен в  2021. Поэтому данная версия остается актуальной
Формат Язык
PDF
Бумажный
  • CHF42
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 16526-1:2011 specifies a method for the direct and absolute measurement of the average high voltage of constant potential (DC) X-ray systems on the secondary side of the high voltage generator. The intention is to check the correspondence with the indicated high voltage value on the control unit of the X-ray system.

This method is applied to assure a reproducible operation of X-ray systems because the voltage influences particularly the penetration of materials and the contrast of X-ray images and also the requirements concerning the radiation protection.

Standard first page

Preview 

Вы можете ознакомиться с данным стандартом в нашей онлайн-библиотеке (OBP)

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2011-12
    Этап
    : Подтверждение действия между-народного стандарта [90.93]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 135/SC 5
    ICS :
    19.100 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цели в области устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура
8
Достойная работа и экономический рост

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 135/SC 5
  6. ISO 16526-1:2011