Последний раз этот стандарт был пересмотрен в 2019.
Поэтому данная версия остается актуальной
Тезис
PreviewISO 17470:2014 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a μm3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.
-
Текущий статус: ОпубликованоДата публикации: 2014-01
-
Версия: 2
-
- ICS :
- 71.040.99 Other standards related to analytical chemistry
Приобрести данный стандарт
ru
| Формат | Язык | |
|---|---|---|
| std 1 61 | PDF + ePub | |
| std 2 61 | Бумажный |
- CHF61
Жизненный цикл
-
Ранее
ОтозваноISO 17470:2004
-
Сейчас
ОпубликованоISO 17470:2014
Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет
Этап: 90.93 (Подтверждено)-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
-
00
Появились вопросы?
Ознакомьтесь с FAQ
Работа с клиентами
+41 22 749 08 88
Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)