Тезис
ISO 14594:2014 gives the general guidelines for the determination of experimental parameters relating to the primary beam, the wavelength spectrometer, and the sample that need to be taken into account when carrying out electron probe microanalysis. It also defines procedures for the determination of beam current, current density, dead time, wavelength resolution, background, analysis area, analysis depth, and analysis volume.
It is intended for the analysis of a well-polished sample using normal beam incidence, and the parameters obtained can only be indicative for other experimental conditions.
It is not designed to be used for energy dispersive X-ray spectroscopy.
Общая информация
-
Текущий статус: ОпубликованоДата публикации: 2014-10Этап: Между-народный стандарт подлежит пересмотру [90.92]
-
Версия: 2
-
Технический комитет :ISO/TC 202/SC 2ICS :71.040.50
- RSS обновления
Preview
Жизненный цикл
-
Ранее
ОтозваноISO 14594:2003
ОтозваноISO 14594:2003/Cor 1:2009
-
Сейчас
ОпубликованоISO 14594:2014
Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет
Этап: 90.92 (Будет пересмотрено)-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
-
00
-
Будет заменено
В стадии разработкиISO/FDIS 14594
Появились вопросы?
Ознакомьтесь с FAQ
Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)