Reference number
ISO 23729:2022
© ISO 2024
International Standard
ISO 23729:2022
Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size
Edition 1
2022-07
Preview
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2022)

ISO 23729:2022

Язык
Формат
CHF 96
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document describes a procedure for the quantitative characterization of the probe tip of an atomic force microscope (AFM) probe and a restoration of AFM topography images dilated by finite probe size. The three-dimensional shape of the probe apex is extracted by image reconstruction using suitable reference materials. This document is applicable to the reconstruction of AFM topography images of solid material surfaces.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2022-07
    Этап
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 201/SC 9
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цели в области устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура
3
Хорошее здоровье и благополучие

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 201/SC 9
  6. ISO 23729:2022