Тезис
This International Standard specifies the guidelines of the method and procedure for determining the effect of temperature on atomic force microscope (AFM) nano-scale dimension measurements. The effect of temperature can be evaluated by continuously measuring the changes of the X- and Y- pitches and height of a two-dimensional (2D) calibration grating in an environmental temperature controllable AFM. If necessary, this method and procedure can be used to evaluate the effect of temperature on dimension measurement of other scanning probe microscopes(SPMs).
Общая информация
-
Текущий статус: В стадии разработкиЭтап: закрытие возможности комментирования [30.60]
-
Версия: 1
-
Технический комитет :ISO/TC 201/SC 9
- RSS обновления
Жизненный цикл
-
Сейчас
-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
-
00