Тезис
This document uses ellipsometric measurements and their analysis to specify the method for the determination of the layer thickness d of a transparent layer and the optical (refractive index n) or dielectric (real part ε1) constants/functions based on the transparent single layer model within a spectral region, for which k = 0 applies.
Общая информация
-
Текущий статус: В стадии разработкиЭтап: Регистрация новой рабочей темы в программе работ ТК/ПК [20.00]
-
Версия: 1
-
Технический комитет :ISO/TC 107
- RSS обновления
Жизненный цикл
-
Сейчас
-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
-
00
Данный стандарт разработан для достижения следующих Цели в области устойчивого развития
1
Ликвидация нищеты
3
Хорошее здоровье и благополучие
6
Чистая вода и санитария
7
Недорогостоящая и чистая энергия
8
Достойная работа и экономический рост
9
Индустриализация, инновации и инфраструктура
11
Устойчивые города и населенные пункты
12
Ответственное потребление и производство
13
Борьба с изменением климата
Появились вопросы?
Ознакомьтесь с FAQ
Работа с клиентами
+41 22 749 08 88
Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)