ISO/AWI TS 23879

Текущий статус : В стадии разработки

Тезис

This document describes methods for measuring the lateral size and thickness of graphene oxide (GO) flakes using scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM) respectively, including sample pre-treatments, measurement procedures and data analysis. It is applicable to the characterization of graphene oxide in powder and liquid dispersion forms.

Общая информация

Текущий статус
: В стадии разработки

Этап
: Регистрация новой рабочей темы в программе работ ТК/ПК [20.00]
Версия
: 1
Технический комитет :
ISO/TC 229
RSS обновления