ISO/AWI TS 23879
Nanotechnologies — Structural characterization of graphene oxide flakes: thickness and lateral size measurement using AFM and SEM
Reference number
ISO/AWI TS 23879
Версия 1
Working draft
ISO/AWI TS 23879
84861
Проект данного международного стандарта был подготовлен рабочей группой.

Тезис

This document describes methods for measuring the lateral size and thickness of graphene oxide (GO) flakes using scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM) respectively, including sample pre-treatments, measurement procedures and data analysis. It is applicable to the characterization of graphene oxide in powder and liquid dispersion forms.

Общая информация

  •  : В стадии разработки
    : Регистрация новой рабочей темы в программе работ ТК/ПК [20.00]
  •  : 1
  • ISO/TC 229
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)