ISO/AWI 12179
Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Calibration of contact (stylus) instruments
Reference number
ISO/AWI 12179
ISO/AWI 12179
Версия 3
© ISO 2024
Working draft
u
ISO/AWI 12179
86679
Проект данного международного стандарта был подготовлен рабочей группой.
Текущее издание: ISO 12179:2021
Тезис
This document specifies the calibration and adjustment of the metrological characteristics of contact (stylus) instruments for the measurement of surface texture by the profile method as defined in ISO 3274. The calibration and adjustment is intended to be carried out with the aid of measurement standards.
Annex B specifies the calibration and adjustment of metrological characteristics of simplified operator contact (stylus) instruments which do not conform with ISO 3274.
Общая информация
-
Текущий статус: В стадии разработкиЭтап: Регистрация новой рабочей темы в программе работ ТК/ПК [20.00]
-
Версия: 3
-
Технический комитет :ISO/TC 213
- RSS обновления
Жизненный цикл
-
Ранее
ОпубликованоISO 12179:2021
-
Сейчас
-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
-
00
Появились вопросы?
Ознакомьтесь с FAQ
Работа с клиентами
+41 22 749 08 88
Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)